日置IM3570阻抗分析仪HIOKI3570参数指标

IM3570 Hioki 阻抗分析仪

Hioki IM3570 阻抗分析仪，宽带 4Hz-5Mz，用于高速测试和频率扫描

特征：

用于高速测试和扫频的单设备解决方案

Hioki IM3570 阻抗分析仪、LCR 表和阻抗分析仪能够将 4 Hz 至 5 MHz 的测量频率和 5 mV 至 5 V 的测试信号电平组合到一台测量仪器中。高级功能包括交流信号的 LCR 测量、直流电 (DCR) 的电阻测量以及连续改变测量频率和测量电平的扫描测量。

IM3570有助于在不同的测量条件和测量模式下进行高速连续测量，因此迄今为止需要多台测量仪器的检测线只需一台设备即可。

测量时间缩短

与以前的型号相比，测量时间缩短了，在 LCR 模式下实现了 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz) 的最大速度。（当显示器关闭时，当显示器打开时，时间增加 0.3 ms）。与以前的 Hioki 产品（基本速度为 5ms 的 3522-50 和 3532-50）相比，这是一个显着的速度提升。更快的速度有助于增加测试数量。此外，需要测量多个点的扫描测量实现了每点0.3ms的快速速度。

低阻抗测量精度提高

与以前的 HIOKI 产品相比，低阻抗测量时的重复精度提高了一位数。例如，当条件为 1 mΩ (1V, 100 kHz) 且测量速度为 MED 时，可以以 0.12% 的重复精度（变化）进行稳定测量，从而使本仪器适用于 100 kHz ESR 测量。