激光测厚仪有什么样的原理?

　　现在很多的产品都会应用很多的高科技，就连现在的测量仪器都含有很高的科技含量。今天，小编就来讲讲激光测厚仪的一些相关信息，下面就看看激光测厚仪有什么样的原理?
　　激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
　　两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内LPM30C激光测厚原理，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。
　　激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化，两者之间的关系：
　　LPM30C测厚计算公式式中：
　　X、X`——分别是被测物位移和光敏器件上像斑的位移;
　　L、L`、α——是系统的结构参数,是根据具体使用要求而选定的。
　　由此可见精确地测量X`就可以得到被测物体的位移量，这就是三角法测量位移的原理。