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镀铝膜的厚度均匀性测量由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄,因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度,目前检测镀铝膜层厚度均匀性的专用仪器是光密度仪。光密度仪原理是光密度法通过对薄膜透光率光学性能进行检测。 镀铝层的厚度测试现在所知的有以下四种: 1、高倍电子显微镜直接测量,精确度为10E-10米,也就是0.1纳米(1米=1000mm,1mm=1000微米,1微米=1000纳米,1纳米=10埃米)。镀铝层的厚度一般为30埃米至800埃米之间。--这个方法对镀铝层厚度方向上的断面取样手法要求极高,其精确度影响较大,但是所得数据是最为直接的物理测量。
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只看楼主 我来说两句 抢板凳