HIOKI日置阻抗分析仪IM7585/IM7583
高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:0.5ms,测量值偏差0.07%
测量频率:1MHz~1.3GHz
测量时间:0.5ms(模拟测量时间)
测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪的测试治具。
HIOKI日置阻抗分析仪IM7585
测量模式 |
LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
测量参数 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 |
100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 |
Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
测量频率 |
1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz) |
测量信号电平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
输出阻抗 |
50 Ω (10 MHz时) |
显示 |
彩色TFT8.4英寸、触屏 |
测量时间 |
0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 |
接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 |
EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 |
主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
附件 |
电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
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