Keithley吉时利4200-SCS半导体特性分析系统

Keithley吉时利4200-SCS半导体特性分析系统

主要特点及优点

直观的、点击式Windows操作环境 

独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA 

用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能 

集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡 

内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 

独特 的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能 

内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方 式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试 

支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设 备 

硬件由Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充 

包括驱动软件，支持 CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自动和手动探针台 

支持先进的半导体模型参数提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso